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顯微成像·洞察微觀之美
Microscopic imaging, insight into the beauty of micro
什么是微分干涉對比鏡檢術?
發布時間：2025-04-09
訪問量：540
什么是微分干涉對比鏡檢術（Differential interference contrast DIC）?下面將一一介紹:
微分干涉對比鏡檢術出現于60年代，它不僅能觀察無色透明的物體，而且圖象呈現出浮雕壯的立體感，并具有相襯鏡檢術所不能達到的某些優點，觀察效果更為逼真。
（1）原理微分干涉對比鏡檢術是利用特制的渥拉斯頓棱鏡來分解光束。分裂出來的光束的振動方向相互垂直且強度相等，光束分別在距離很近的兩點上通過被檢物體，在相位上略有差別。由于兩光束的裂距極小，而不出現重影現象，使圖象呈現出立體的三維感覺。
（2）微分干涉對比鏡檢術所需的特殊部件：
a.起偏鏡 b.檢偏鏡 c.渥拉斯頓棱鏡2塊
（3）微分干涉對比鏡檢時的注意事項：
a.因微分干涉靈敏度高，制片表面不能有污物和灰塵。
b.具有雙折射性的物質，不能達到微分干涉對比鏡檢的效果。
c.倒置顯微鏡應用微分干涉時，不能用塑料培養皿。
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